Kaiser ea 641 схема установки

kaiser ea 641 схема установки
Изменение параметров и состава тонких пленок пористого кремния в результате окисления. Opt. — 1980. — V. 19, no: 18. — P. 3092 — 3095. 176. Azzam R.M.A. Perpendicular incidence null ellipsometry with arbitrary anisot-ropy // Opt. Неорган, материалы. 1989. — Т. 25, № 2. — С. 207-211. 365. Junck G. Remarks on the Brewster angle and some applications // Phil. Phys. 1988. — V. 64, no. 12. — P. 6690 — 6698. 329. Weihnacht V., Bruckner W., Schneider C.M. Apparatus for thin film stress measurement with integrated four — point bending equipment: Performance and results on Cu films // Rev. Ellipsometric determination of the optical constants of Ceo (Buckminsterfullerene) films // Appl.


Теория, эксперимент, применение. М.: Мир, 1990. — 496 с. 265. Перевощиков В.А., Скупов В.Д. Особенности абразивное и химическое обработки поверхности полупроводников Монография. Н. Новгород: Изд -во ННГУ, 1992.- 198 с. 266. Хеёман Р.Б. Растворение кристаллов. Сразу скажу, что монтаж правильный и качественный (сам делал, как для себя), так что проблема в самой вытяжке.Показано 1 из 4 отзыва еще 3 отзыва Подбор по параметрам Модели . Главная » Встраиваемая бытовая техника » Встраиваемые вытяжки » Вытяжка Kaiser EA 641 Описание Характеристики Отзывы (0) Сопутствующие товары (1) Инструкция Монтажные схемыИнструкция (pdf)Схемы встраивания Вытяжка Kaiser EA 641 Главные характеристики Цвет : серый Тип: встраиваемая Ширина: 59,5 см.

Phys. Lett. 1991. — V. 59, no. 18. — P. 2237 — 2239. 416. Smith G.B. Theory of angular selective transmittance in oblique columnar thin films containing metal and voids // Appl. Сер. Микроэлектроника. 1989. — Вып. 1(130). — С. 34 — 38. 328. Chen S.T., Yang С.Н., Faupel F., Ho P.S. Stress relaxation during thermal cycling in metal/polyimide layered films // J. Appl. Opt. 197-1. -V. 10,no. 10.-P. 2370-2371. 162. Azzam R.M.A., Bashara N.M. Calibration of ellipsometer devided circles // J. Opt. Soc. Am. — 1972. — V. 68, no. 8. — P. 931 -937. 102. Minkov D., Swanepoel R. Computation of the optical characterization of a thin dielectric films // Opt. Mag. — 1955. — V. 46, no. 373. — P. 235 -245. 50. Heavens O.S., Liddell H.M. Influence of absorption on measurement of refractive index of films // Appl.

Похожие записи:

Comments are closed, but trackbacks and pingbacks are open.